- Tytuł:
- Projektowanie testu aplikacyjnego układów pamięci NAND FLASH
- Autorzy:
- Bąk, K.
- Data publikacji:
- 2013
- Słowa kluczowe:
-
diagnostyka
NAND FLASH
wiarygodność
test aplikacyjny
diagnostic
reliability
application test - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech