- Tytuł:
- Fault modeling and analysis of short defects in CMOS based reversible circuits
- Autorzy:
-
Amaricai, A.
Boncalo, O. - Data publikacji:
- 2010
- Wydawca:
- Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
- Tematy:
-
odwracalne obwody
modelowanie błędów
testowanie
zwarcie
reversible circuits
fault modeling
testing
short - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki