Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Silicon substrate" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Badania strukturalne warstw węglowych w kontaktach omowych : porównanie widm ramanowskich obserwowanych od strony warstwy krzemkowej oraz podłoża z węglika krzemu
Autorzy:
Borowicz, P.
Adamus, Z.
Ekielski, M.
Piotrowska, A.
Kuchuk, A.
Borysiewicz, M.
Kamińska, E.
Latek, M.
Data publikacji:
2012
Słowa kluczowe:
rozproszenie Ramana
węglik krzemu
węgiel
kontakt omowy
Raman scattering
silicon carbide
carbon
ohmic contact
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Tytuł:
Kompleksowa charakteryzacja struktur elektronicznych na podłożach SiC metodami fotoelektrycznymi, elektrycznymi i optycznymi
Autorzy:
Przewłocki, H. M.
Gutt, T.
Piskorski, K.
Rzodkiewicz, W.
Borowicz, P.
Esteve, R.
Bakowski, M.
Data publikacji:
2011
Słowa kluczowe:
struktura MOS
węglik krzemu
schemat pasmowy
metody fotoelektryczne
metody elektryczne
metody optyczne
MOS structure
silicon carbide
band diagram
photoelecric methods
electric methods
optical methods
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies