- Tytuł:
- Compact Modelling of Ultra Deep Submicron CMOS Devices
- Autorzy:
-
Grabiński, W.
Sallese, J.M.
Bucher, M.
Krummenacher, F. - Data publikacji:
- 2002
- Słowa kluczowe:
-
ultra deep submicron (UDSM) technology
EPEL-EKV compact MOS-FET model
low power and RF applications - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech