- Tytuł:
- Mapowanie czasu życia nośników w materiałach półprzewodnikowych z wykorzystaniem techniki modulacji absorpcji na swobodnych nośnikach
- Autorzy:
-
Maliński, M.
Bychto, L.
Chrobak, Ł.
Madej, W. - Data publikacji:
- 2015
- Słowa kluczowe:
-
metoda nieniszcząca
technika modulacji absorpcji na swobodnych nośnikach
krzem
mapowanie
nondestructive methods
modulation by free carrier absorption
MFCA method
silicon
mapping - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł