Temat: fault localization - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów
An input-output fault detection method of analog electronic circuits taking into consideration tolerances of elements
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 2004
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej PAN
Tematy:: detekcja uszkodzeń
lokalizacja uszkodzeń
analogowy układ elektroniczny
fault detection
fault localization
analog electronic circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: detekcja uszkodzeń
lokalizacja uszkodzeń
analogowy układ elektroniczny
fault detection
fault localization
analog electronic circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Implementacja metody diagnostycznej opartej na wielokrotnym próbkowaniu odpowiedzi czasowej w mieszanym sygnałowo mikrosystemie elektronicznym
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: lokalizacja uszkodzeń
mikrokontrolery
układy analogowe
elektrotechnika
fault localization
microcontrollers
analog circuits
electrical engineering
electrotechnics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
Fault localization in analog parts of embedded electronic systems taking into account tolerances of elements
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 2007
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: detekcja i lokalizacja uszkodzeń
samotestowanie
BIST
elektroniczne systemy wbudowane
mikrokontrolery
fault detection and localization
self-testing
electronic embedded systems
microcontrollers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: detekcja uszkodzeń
lokalizacja uszkodzeń
samotestowanie
BIST
elektroniczne systemy wbudowane
mikrokontrolery
fault detection and localization
self-testing
electronic embedded systems
microcontrollers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja