Wszystkie pola: Patryn, Aleksy

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Patryn, Aleksy" wg kryterium: Wszystkie pola

Wyświetlanie 1-2 z 2

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Technika elipsometrii spektroskopowej jako metoda monitorowania jakości powierzchni materiałów grupy SrxBa1-xNb2O6
Autorzy:: Dorywalski, Krzysztof
Współwytwórcy:: Patryn, Aleksy
Data publikacji:: 2014
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Dyspersja przenikalności dielektrycznej kryształów SBN w zakresie spektralnym światła widzialnego i nadfioletu
Autorzy:: Dorywalski, Krzysztof
Współwytwórcy:: Andriyevsky, Bohdan
Patryn, Aleksy
Data publikacji:: 2010
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-2 z 2

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "Patryn, Aleksy" wg kryterium: Wszystkie pola