- Tytuł:
- Depth dependent X-ray diffraction of porous anodic alumina films filled with cubic YAlO3:Tb3+ matrix
- Autorzy:
-
Serafińczuk, Jarosław
Pawlaczyk, Łukasz
Podhorodecki, Artur
Gaponenko, Nikolai
Molchan, Igor
Thompson, George - Data publikacji:
- 2020
- Wydawca:
- Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
- Tematy:
-
PAA
X-ray diffraction
AFM
SEM
crystallization - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki