- Tytuł:
- Behavioral modeling of stressed MOSFET
- Autorzy:
- Gniazdowski, Z.
- Data publikacji:
- 2015
- Słowa kluczowe:
-
piezoconductivity
stressed MOSFET
strained silicon
MOSFET model
SPICE model - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.