- Tytuł:
- Optical and electrical characterization of defects in zinc oxide thin films grown by atomic layer deposition
- Autorzy:
-
Krajewski, T. A.
Łuka, G.
Wachnicki, Ł.
Jakieła, R.
Witkowski, B.
Guziewicz, E.
Godlewski, M.
Huby, N.
Tallarida, G. - Data publikacji:
- 2009
- Słowa kluczowe:
-
zinc oxide
atomic layer deposition (ALD)
electrical properties
photoluminescence - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech