Temat: Scanning microscopy

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Thermal characterization of micro-devices with far and near field microscopy
Autorzy:: Szeloch, R.
Gotszalk, T.
Janus, P.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: scanning thermal microscopy
thermal characterization
AFM; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Uniwersalny sterownik na bazie mikrokontrolera ATmega128 dla mikroskopii bliskich oddziaływań
Autorzy:: Garczyński, K.
Zielony, M.
Zawierucha, P.
Kopiec, D.
Gotszalk, T.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: mikroskop skaningowy
mikrokontrolery
logika programowalna
system pomiarowy
scanning microscopy
microcontrollers
programmable logic devices
measuring system; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Fabrication of micro- and nanostructures by scanning probe microscopy. Local anodic oxidation
Autorzy:: Kolanek, K.
Gotszalk, T.
Zielony, M.
Grabiec, P.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: local anodic oxidation
nanolithography
scanning probe microscopy
atomic force microscope; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Diagnostyka materiałów i układów mikro- i nanolektronicznych metodami modularnej mikroskopii bliskich oddziaływań
Autorzy:: Gotszalk, T.
Radojewski, J.
Szeloch, R.
Marendziak, A.
Sikora, A.
Hasek, T.
Kolanek, K.
Grabiec, P.
Rangelow, I.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: mikrosystemy
nanotechnologia
mikroskopia bliskich oddziaływań
scanning probe microscopy
atomic force microscope
AFM; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Nanomiernictwo mikro- i nanostruktur metodami mikroskopii bliskich oddziaływań
Autorzy:: Gotszalk, T.
Radojewski, J.
Szeloch, R.
Marendziak, A.
Kolanek, K.
Woszczyna, M.
Masalska, A.
Grabiec, P.
Janus, P.
Rangelow, I.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: mikroskopia bliskich oddziaływań
mikroskopia sił atomowych
nanomiernictwo
scanning probe microscopy
atomic force microscopy (AFM)
nanometrology; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Piezorezystywna nanosonda AFM/SThM do badań termicznych w nanoskali
Autorzy:: Janus, P.
Szmigiel, D.
Domański, K.
Grabiec, P.
Sierakowski, A.
Gotszalk, T.
Rudek, M.
Kopiec, D.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: nanometrologia
Mikroskopia Sił Atomowych
Skaningowa Mikroskopia Termiczna
czujniki piezorezystywne
nanometrology
atomic force microscopy
scanning thermal microscopy
resistive sensors; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Zastosowanie interferomerii światłowodowej w ocenie właściwości metrologicznych czujników bliskiego pola mikroskopu sił atomowych
Autorzy:: Mulak, P.
Gotszalk, T.
Kolanek, K.
Woszczyna, M.
Masalska, A.
Zawierucha, P.
Wielgoszewski, G.
Zielony, M.
Sankowska, A.
Szeloch, R.
Janus, P.
Grabiec, P.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: mikroskopia bliskich oddziaływań
interferometria światłowodowa
nanometrologia
nanomiemictwo
scanning probe microscopy
optical fiber interferometry
nanometrology; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: 32-kanałowy cyfrowy regulator PID na bazie układu FPGA do zastosowań w mikroskopii sił atomowych
Autorzy:: Nowacki, Z.
Zawierucha, P.
Serafińczuk, J.
Woszczyna, M.
Sawicki, P.
Zielony, M.
Szecówka, P.
Gotszalk, T.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: regulator PID
FPGA
VHOL
regulatory cyfrowe
mikroskopia bliskich oddziaływań
PlD controller
digital controller
scanning probe microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Wzmacniacz fazoczuły typu lock-in do zastosowań w mikroskopii bliskich oddziaływań
Autorzy:: Kopiec, D.
Woszczyna, M.
Gotszalk, T.
Woźniak, K.
Zawierucha, P.
Sojka, K.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: wzmacniacz fazoczuły
lock-in
mikroskopia bliskich oddziaływań
generator DDS
phase sensitive detector
scanning probe microscopy
DDS generator; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Analiza obrazów powierzchni w mikroskopii bliskich oddziaływań
Autorzy:: Jóźwiak, G.
Gotszalk, T.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: mikroskopia bliskich oddziaływań
analiza topografii powierzchni
analiza motywów 3D
scanning probe microscopy
surface analysis
3D motif analysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "Scanning microscopy" wg kryterium: Temat