Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Biblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaBiblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie

Wyszukujesz frazę "mikroskopia sil atomowych" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-7 z 7
    Tytuł:
    Metody mikroskopii bliskiego pola od mikro- do nanoelektroniki: diagnostyka, wytwarzanie
    Autorzy:
    Gotszalk, T.
    Sikora, A.
    Kolanek, K.
    Szeloch, R.
    Szmidt, J.
    Grabiec, P.
    Rangelow, I. W.
    Mitura, S.
    Data publikacji:
    2005
    Słowa kluczowe:
    mikroskopia sił atomowych
    lokalna anodyzacja powierzchni
    nanolitografia
    tranzystor jednoelektronowy
    atomic force microscopy (AFM)
    local anodization
    nanolithography
    single electron transistor
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Wytwarzanie mikro- i nanostruktur metodami mikroskopii bliskich oddziaływań
    Autorzy:
    Kolanek, K.
    Gotszalk, T.
    Zielony, M.
    Grabiec, P.
    Data publikacji:
    2008
    Słowa kluczowe:
    lokalna anodyzacja powierzchni
    nanolitografia
    nanotechnologia
    mikroskopia bliskich oddziaływań
    mikroskopia sił atomowych
    mokre trawienie
    local anodic oxidation
    nanolitography
    nanotechnology
    scanning probe microscopy
    atomic force microscopy (AFM)
    wet etching
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Wytwarzanie przyrządów elektroniki kwantowej metodami mikroskopii bliskich oddziaływań
    Autorzy:
    Kolanek, K.
    Gotszalk, T.
    Woszczyna, M.
    Masalska, A.
    Zawierucha, P.
    Mulak, P.
    Szeloch, R.
    Zielony, M.
    Janus, P.
    Grabiec, P.
    Data publikacji:
    2006
    Słowa kluczowe:
    mikroskopia sił atomowych
    lokalna anodyzacja powierzchni
    nanolitografia
    elektronika kwantowa
    kwantowy kontakt punktowy
    atomic force microscopy (AFM)
    local anodic oxidation
    nanolithography
    quantum electronics
    quantum point contact
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
      Wyświetlanie 1-7 z 7

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies