Wszystkie pola: information Technology

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "information Technology" wg kryterium: Wszystkie pola

Wyświetlanie 1-10 z 22

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: History of Semiconductors
Autorzy:: Łukasiak, L.
Jakubowski, A.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: band theory
laser
Moore's law
semiconductors
transistor; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Challenges in ultrathin oxide layers formation
Autorzy:: Beck, R.B.
Jakubowski, A.
Łukasiak, L.
Korwin-Pawłowski, M.
Data publikacji:: 2001
Słowa kluczowe:: silicon technology
oxidation
PECVD
RTO
gate oxide
ultrathin
layers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Arbitrary waveform generator for charge-pumping
Autorzy:: Iwanowicz, M.
Pióro, Z.
Łukasiak, L.
Jakubowski, A.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: arbitrary waveform generator,
calibration
charge-pumping
digital synthesis
noise; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Ultrathin oxynitride films for CMOS technology
Autorzy:: Beck, R.B.
Jakubowski, A.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: MOS technology
gate stack
ultrathin oxynitride layers
high temperature processing
plasma processing; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Optimization of selected parameters of SiGe HBT transistors
Autorzy:: Zaręba, A.
Jakubowski, A.
Data publikacji:: 2000
Słowa kluczowe:: heterojunction bipolar transistor
base transit time
current gain; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: A model of partially-depleted SOI MOSFETs in the subthreshold range
Autorzy:: Tomaszewski, D.
Łukasiak, L.
Jakubowski, A.
Domański, K.
Data publikacji:: 2001
Słowa kluczowe:: SOI MOSFET
subthreshold range
floating body
transconductance; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Characterization of SOI fabrication process using gated-diode measurements and TEM studies
Autorzy:: Gibki, J.
Kątcki, J.
Ratajczak, J.
Łukasik, L.
Jakubowski, A.
Tomaszewski, D.
Data publikacji:: 2000
Słowa kluczowe:: microelectronics
SOI technology
characterization; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Analysis of the Dispersion of Electrical Parameters and Characteristics of FinFET Devices
Autorzy:: Malinowski, A.
Tomaszewski, D.
Łukasiak, L.
Jakubowski, A.
Sekine, M.
Hori, M.
Korwin-Pawlowski, M. L.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: FinFET
line edge roughness
parameter variability
plasma etching
technology computer aided design (TCAD); Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Silicon microelectronics: where we have come from and where we are heading
Autorzy:: Łukasiak, L.
Jakubowski, A.
Pióro, Z.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: MOSFET
scaling
SiGe
SOI; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Modeling SiGe-base HBT using APSYS 2000 - a 2D simulator
Autorzy:: Linkowski, A.
Łukasiak, L.
Jakubowski, A.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: base transit time
cut-off frequency
HBT
SiGe-base; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-10 z 22

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "information Technology" wg kryterium: Wszystkie pola