Temat: Scanning microscopy

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Scanning microscopy" wg kryterium: Temat

Wyświetlanie 1-7 z 7

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Thermal characterization of copper thin films made by means of sputtering
Autorzy:: Szeloch, R. F.
Posadkowski, W. M.
Gotszalk, T. P.
Janus, P.
Kowaliw, T.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: copper
magnetron
sputtering
scanning thermal microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Thermal characterization of micro-devices with far and near field microscopy
Autorzy:: Szeloch, R.
Gotszalk, T.
Janus, P.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: scanning thermal microscopy
thermal characterization
AFM; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Scanning probe microscopy as a metrology method in micro- and nanostructure investigations
Autorzy:: Gotszlak, T.
Marendziak, A.
Kolanek, K.
Szeloch, R.
Grabiec, P.
Zaborowski, M.
Janus, P.
Rangelow, I.W.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: scanning probe microscopy
micro- and nanostructure investigations; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Nanomiernictwo mikro- i nanostruktur metodami mikroskopii bliskich oddziaływań
Autorzy:: Gotszalk, T.
Radojewski, J.
Szeloch, R.
Marendziak, A.
Kolanek, K.
Woszczyna, M.
Masalska, A.
Grabiec, P.
Janus, P.
Rangelow, I.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: mikroskopia bliskich oddziaływań
mikroskopia sił atomowych
nanomiernictwo
scanning probe microscopy
atomic force microscopy (AFM)
nanometrology; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Piezorezystywna nanosonda AFM/SThM do badań termicznych w nanoskali
Autorzy:: Janus, P.
Szmigiel, D.
Domański, K.
Grabiec, P.
Sierakowski, A.
Gotszalk, T.
Rudek, M.
Kopiec, D.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: nanometrologia
Mikroskopia Sił Atomowych
Skaningowa Mikroskopia Termiczna
czujniki piezorezystywne
nanometrology
atomic force microscopy
scanning thermal microscopy
resistive sensors; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Zastosowanie interferomerii światłowodowej w ocenie właściwości metrologicznych czujników bliskiego pola mikroskopu sił atomowych
Autorzy:: Mulak, P.
Gotszalk, T.
Kolanek, K.
Woszczyna, M.
Masalska, A.
Zawierucha, P.
Wielgoszewski, G.
Zielony, M.
Sankowska, A.
Szeloch, R.
Janus, P.
Grabiec, P.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: mikroskopia bliskich oddziaływań
interferometria światłowodowa
nanometrologia
nanomiemictwo
scanning probe microscopy
optical fiber interferometry
nanometrology; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Integrated thermal probe for SThM investigation of micro- and nanoelectronic devices
Autorzy:: Janus, P.
Szmigiel, D.
Wielgoszewski, G.
Weisheit, M.
Ritz, Y.
Grabiec, P.
Hecker, M.
Gotszalk, T.
Sulecki, P.
Zschech, E.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
skanująca sonda termiczna
atomic force microscopy (AFM)
Scanning Thermal Probe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-7 z 7

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "Scanning microscopy" wg kryterium: Temat