- Tytuł:
- Charakteryzacja komórek standardowych CMOS dla generacji wektorów testowych
- Autorzy:
-
Pleskacz, W. A.
Wielgus, A.
Kasprowicz, D.
Borejko, T.
Kuźmicz, W. - Data publikacji:
- 2008
- Słowa kluczowe:
-
testowanie układów cyfrowych
generacja wektorów testowych
testowanie prądowe
DDQ
defekty fizyczne
uszkodzenia zwarciowe
digital-circuit testing
test-pattern generation
DDQ testing
physical defects
bridging faults - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł