Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "X-ray surface layer analysis" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Elektronowa mikroskopia skaningowa i mikroanaliza rentgenowska warstwy wierzchniej nowego kompozytu polimerowego przeznaczonego do autokatalitycznego metalizowania
Autorzy:
Moraczewski, K.
Rytlewski, P.
Trykowski, G.
Żenkiewicz, M.
Data publikacji:
2012
Słowa kluczowe:
elektronowa mikroskopia skaningowa
mikroanaliza rentgenowska
kompozyty polimerowe
metalizowanie autokatalityczne
scanning electron microscopy
X-ray surface layer analysis
polymer composite
autocatalytic metallization
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies