Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Piątkowska, Anna" wg kryterium: Wszystkie pola


Tytuł:
Determination of the thickness of BN layers on the Al2O3 substrate by FT-IR spectroscopy
Wyznaczanie grubości warstw BN na podłożu Al2O3 za pomocą spektroskopii FT-IR
Autorzy:
Możdżonek, Małgorzata
Caban, Piotr A.
Gaca, Jarosław
Wójcik, Marek
Piątkowska, Anna
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:
h-BN layers
ATR
IRR
XRR
thickness measurement
Al2O3
warstwy h-BN
pomiar grubości
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies