- Tytuł:
-
Determination of the thickness of BN layers on the Al2O3 substrate by FT-IR spectroscopy
Wyznaczanie grubości warstw BN na podłożu Al2O3 za pomocą spektroskopii FT-IR - Autorzy:
-
Możdżonek, Małgorzata
Caban, Piotr A.
Gaca, Jarosław
Wójcik, Marek
Piątkowska, Anna - Data publikacji:
- 2020
- Wydawca:
- Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
- Tematy:
-
h-BN layers
ATR
IRR
XRR
thickness measurement
Al2O3
warstwy h-BN
pomiar grubości - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł