Wszystkie pola: microscopy techniques

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Rozwój i zastosowanie zaawansowanych technik mikroskopii sił atomowych w diagnostyce materiałów elektrotechnicznych. Wybrane zagadnienia : wybrane zagadnienia
Development and utilization of advanced atomic force microscopy techniques in diagnostics of the electrotechnical materials. Chosen problems
Autorzy:: Sikora, A.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:: nikroskopia sił atomowych
diagnostyka powierzchni w nanoskali
elektrotechnika
atomic force microscopy (AFM)
nanoscale surface diagnostics
electrotechnics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Rozwój i zastosowanie zaawansowanych technik mikroskopii sił atomowych w diagnostyce materiałów elektrotechnicznych. Wybrane zagadnienia : wybrane zagadnienia
Autorzy:: Sikora, A.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: nikroskopia sił atomowych
diagnostyka powierzchni w nanoskali
elektrotechnika
atomic force microscopy (AFM)
nanoscale surface diagnostics
electrotechnics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: System zaawansowanej analizy sygnałów do pomiaru właściwości mechanicznych powierzchni w mikroskopii sił atomowych
Autorzy:: Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
techniki pomiarowe
przetwarzanie sygnałów
atomic force microscopy (AFM)
measurement techniques
signal processing
harmonic analysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Investigations of reconstruction of passivation layer on stainless steel surface using AFM-based techniques
Autorzy:: Błaszczyk, M.
Durko, M.
Iwanicka, Z.
Lochyński, P.
Sikora, A.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: atomic force microscopy
passivation layer
stainless steel
nanoscratching; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Diagnostyka struktur półprzewodnikowych z wykorzystaniem zaawansowanych technik bliskiego pola
Autorzy:: Sikora, A.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
diagnostyka układów scalonych
elektrostatyka
sonda Kelvina
EFM
atomic force microscopy (AFM)
diagnostic of integrated ciruits
electrostatics
Kelvin probe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja