- Tytuł:
- Asymmetry of 1 nm XRD reflection and measurement of illite crystallinity
- Autorzy:
- Wang, Hejing. Autor
- Współwytwórcy:
- Zhou, Jian (geologia). Autor
- Data publikacji:
- 2016
- Tematy:
-
Krystalografia rentgenowska
Ił - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Academica