Autor: Jakubowicz Michał - Prolib Integro

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Jakubowicz Michał" wg kryterium: Autor

Wyświetlanie 1-6 z 6

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Simulation of influence of diameter and other circle parameters on results of incomplete round profile testing
Autorzy:: Smyczyńska, Lidia
Wieczorowski, Michał
Jakubowicz, Michał
Gapiński, Bartosz
Data publikacji:: 2025
Słowa kluczowe:: diameter
form deviation
roundness
coordinate measurement technique; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Photogrammetry-Aided Study of the Accuracy and Repeatability of a Modular System for Manufacturing Shelf Ready Packaging
Autorzy:: Jakubowicz, Michał
Wieczorowski, Michał
Gapiński, Bartosz
Swojak, Natalia
Rogiewicz, Filip
Jermak, Czesław
Data publikacji:: 2024
Słowa kluczowe:: coordinate measuring technique
photogrammetry
repeatability; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Differences in Roughness Parameter Values from Skid and Skidless Contact Stylus Profilometers
Autorzy:: Grochalski, Karol
Mendak, Michał
Jakubowicz, Michał
Gapiński, Bartosz
Swojak, Natalia
Wieczorowski, Michał
Krawczyk, Aleksandra
Data publikacji:: 2021
Słowa kluczowe:: contact profilometer
portable profilometer
roughness parameters
skid devices
skidless devices
profilometr kontaktowy
profilometr przenośny
parametry chropowatości
urządzenia poślizgowe
urządzenia bezpoślizgowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Differences in Roughness Parameter Values from Skid and Skidless Contact Stylus Profilometers
Autorzy:: Grochalski, Karol
Mendak, Michał
Jakubowicz, Michał
Gapiński, Bartosz
Swojak, Natalia
Wieczorowski, Michał
Krawczyk, Aleksandra
Data publikacji:: 2021
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: contact profilometer
portable profilometer
roughness parameters
skid devices
skidless devices
profilometr kontaktowy
profilometr przenośny
parametry chropowatości
urządzenia poślizgowe
urządzenia bezpoślizgowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Metrologia w skali makro - jak zmieniają się polskie laboratoria metrologiczne
Autorzy:: Wieczorowski, Michał
Gapiński, Bartosz
Talar, Rafał
Stachowska, Ewa
Jakubowicz, Michał
Grochalski, Karol
Kucharski, Dawid
Marciniak-Podsadna, Lidia
Mietliński, Patryk
Swojak, Natalia
Data publikacji:: 2024
Słowa kluczowe:: Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych
makropomiary
skanowanie powierzchni
rozwiązania multisensoryczne; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Skala mikro i nano Nowe możliwości w Zakładzie Metrologii i Systemów Pomiarowych
Autorzy:: Wieczorowski, Michał
Gapiński, Bartosz
Talar, Rafał
Stachowska, Ewa
Jakubowicz, Michał
Grochalski, Karol
Kucharski, Dawid
Marciniak-Podsadna, Lidia
Mietliński, Patryk
Swojak, Natalia
Data publikacji:: 2024
Słowa kluczowe:: laboratorium pomiarowe
metrologia 4.0
Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych
Politechnika Poznańska
skaningowa interferometria koherentna
mikroskopia różnicowania ogniskowego; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-6 z 6

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "Jakubowicz Michał" wg kryterium: Autor