Temat: mikroskopia sil atomowych

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "mikroskopia sil atomowych" wg kryterium: Temat

Wyświetlanie 1-6 z 6

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Wejściowe układy elektroniczne współpracujące z mikrosystemowymi piezoelektrycznymi czujnikami nanosił i nanowychyleń
Autorzy:: Woszczyna, M.
Masalska, A.
Kolanek, K.
Gotszalk, T.
Szeloch, R.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
rezonator piezoelektryczny
AFM
tuning fork; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Ocena parametrów metrologicznych mikromechanicznych dźwigni piezorezystywnych
Autorzy:: Woszczyna, M.
Janus, P.
Grabiec, P.
Kolek, A.
Gotszalk, T.
Rangelow, I. W.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: dźwignia piezorezystywna
mikroskopia sił atomowych
nanotechnologia
piezoresistive cantilever
atomic force microscopy (AFM)
nanotechnology; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Mikroskopia sił atomowych z zastosowaniem matryc mikrodźwigni sprężystych
Autorzy:: Zawierucha, P.
Zielony, M.
Kopiec, D.
Woszczyna, M.
Sarov, Y.
Frank, A.
Ivanov, T.
Zöllner, J. P.
Rangelow, I. W.
Gotszalk, T.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
matryca dźwigni
topografia
atomic force microscopy (AFM)
cantilever array
topography; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Nanomiernictwo mikro- i nanostruktur metodami mikroskopii bliskich oddziaływań
Autorzy:: Gotszalk, T.
Radojewski, J.
Szeloch, R.
Marendziak, A.
Kolanek, K.
Woszczyna, M.
Masalska, A.
Grabiec, P.
Janus, P.
Rangelow, I.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: mikroskopia bliskich oddziaływań
mikroskopia sił atomowych
nanomiernictwo
scanning probe microscopy
atomic force microscopy (AFM)
nanometrology; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Calibration of atomic force microscope
Autorzy:: Masalska, A.
Zawierucha, P.
Woszczyna, M.
Gotszalk, T.
Ritz, Y.
Zschech, E.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
skalowanie
geometria ostrza pomiarowego
błędy skanowania
atomic force microscopy (AFM)
calibration
tip radius
scanning errors; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Wytwarzanie przyrządów elektroniki kwantowej metodami mikroskopii bliskich oddziaływań
Autorzy:: Kolanek, K.
Gotszalk, T.
Woszczyna, M.
Masalska, A.
Zawierucha, P.
Mulak, P.
Szeloch, R.
Zielony, M.
Janus, P.
Grabiec, P.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
lokalna anodyzacja powierzchni
nanolitografia
elektronika kwantowa
kwantowy kontakt punktowy
atomic force microscopy (AFM)
local anodic oxidation
nanolithography
quantum electronics
quantum point contact; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-6 z 6

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "mikroskopia sil atomowych" wg kryterium: Temat