- Tytuł:
- Wykorzystanie fluorescencyjnego spektrometru rentgenowskiego (XRF) w analizie elementów elektronicznych i płytek drukowanych na zgodność z dyrektywą RoHS
- Autorzy:
- Kościelski, Marek
- Współwytwórcy:
- Instytut Tele- i Radiotechniczny
- Data publikacji:
- 2009
- Dostawca treści:
- Academica