- Tytuł:
- Thin film thickness determination using X-ray reflectivity and Savitzky-Golay algorithm
- Współwytwórcy:
-
Politechnika Wrocławska. Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Schroeder, Grzegorz
Serafińczuk, Jarosław
Pietrucha, Jakub
Gotszalk, Teodor Paweł - Data publikacji:
- 2011
- Dostawca treści:
- Academica