Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Biblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaBiblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie

Wyszukujesz frazę "photoinduced spectroscopy" wg kryterium: Wszystkie pola

  Lista filtrów
Wyrównaj
Wyświetlanie 1-10 z 21
Tytuł:
Intelligent measuring system for characterisation of defect centres in semi-insulating materials by photoinduced transient spectroscopy
Autorzy:
Pawłowski, M.
Kamiński, P.
Kozłowski, R.
Jankowski, S.
Wierzbowski, M.
Data publikacji:
2005
Słowa kluczowe:
sieci neuronowe
centra defektowe
materiały półizolujące
Photoinducted Transient Spectroscopy (PITS)
neural network
computational intelligence
defect centres
semi-insulating materials
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Szczegóły
Tytuł:
Analiza błędu wartości parametrów centrów defektowych wyznaczanych metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej PITS
Error analysis of the parameters of the defekt centres determined by the photoinduced transient spectroscopy PITS
Autorzy:
Pawłowski, M.
Suproniuk, M.
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:
PITS
centrum defektowe
półprzewodnik wysokorezystywny
adekwatność modelu
defect center
semi-insulating material
model adequacy
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Szczegóły
Tytuł:
Inteligentny system diagnostyczny do badania półprzewodników wysokorezystywnych metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej PITS
Autorzy:
Suproniuk, M.
Kamiński, P.
Miczuga, M.
Pawłowski, M.
Kleider, J.
Kozłowski, R.
Longeaud, Ch.
Data publikacji:
2009
Słowa kluczowe:
system diagnostyczny
spektroskopia fotoprądowa
centra defektowe
materiały półizolujące
diagnostic system
defect centers
defect structure
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Szczegóły
Tytuł:
Zastosowanie metod inteligencji obliczeniowej do analizy struktury defektowej półprzewodników wysokorezystywnych
Autorzy:
Jankowski, S.
Kamiński, P.
Kozłowski, R.
Szymański, R.
Będkowski, J.
Data publikacji:
2009
Słowa kluczowe:
maszyna wektorów nośnych SVM
maszyna wektorów istotnych RVM
niestacjonarna spektroskopia fotoprądowa PITS
centra defektowe
materiały półizolujące
support vector machine (SVM)
relevance vector machine RVM
photoinduced transient spectroscopy (PITS)
defect centres
semi-insulating materials
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Szczegóły
Tytuł:
Błąd adekwatności modelu obrazowania struktury defektowej półprzewodników wysokorezystywnych badanej metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej.
Autorzy:
Pawłowski, M.
Suproniuk, M.
Data publikacji:
2011
Słowa kluczowe:
adekwatność modelu
spektroskopia fotoprądowa
centra defektowe
półprzewodniki wysokorezystywne
elektrotechnika
elektroenergetyka
model adequacy
PITS
defect center
semi-insulating materials
electrical technology
electrical power engineering
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Szczegóły
Wyświetlanie 1-10 z 21

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies