Temat: dynamic force microscopy

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Desorption and surface topography changes induced by $He^{+}$ ion bombardment of alkali halides
Autorzy:: Kołodziej, Jacek
Szymoński, Marek
Such, Bartosz
Struski, P.
Czuba, Paweł
Krok, Franciszek
Piątkowski, Piotr
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: ion-stimulated desorption (ISD)
alkali halides
quadruple mass spectroscopy (QMS)
surface topography
dynamic force microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Ion-beam-induced surface modification and nanostructuring of $A_{III}B_{V}$ semiconductors
Autorzy:: Struski, P.
Szymoński, Marek
Such, Bartosz
Krok, Franciszek
Kołodziej, Jacek
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: surface nanostructuring
$A_{III}B_{V}$ semiconductor surfaces
ion-enhanced surface diffusion
dynamic force microscopy
ion-induced surface modification
Kelvin probe force spectroscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Metoda detekcji amplitudy i fazy w trybie kontaktu przerywanego w dynamicznym mikroskopie sił atomowych
The method of amplitude and phase detection in tapping-mode in dynamic atomic force microscopy
Autorzy:: Pawłowski, S.
Dobiński, G.
Majcher, A.
Mrozek, M.
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: dynamiczny mikroskop sił atomowych
tryb kontaktu przerywanego
szybka transformata Fouriera FFT
detekcja amplitudy i fazy
dynamic atomic force microscopy
tapping-mode
fast Fourier transform (FFT)
amplitude and phase detection; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Metoda detekcji amplitudy i fazy w trybie kontaktu przerywanego w dynamicznym mikroskopie sił atomowych
Autorzy:: Pawłowski, S.
Dobiński, G.
Majcher, A.
Mrozek, M.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: mikroskop sił atomowych dynamiczny
tryb kontaktu przerywanego
szybka transformata Fouriera FFT
detekcja amplitudy i fazy
dynamic atomic force microscopy
tapping-mode
fast Fourier transform (FFT)
amplitude and phase detection; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Shortening and dispersion of single-walled carbon nanotubes upon interaction with mixed supramolecular compounds
Autorzy:: Jagusiak, A.
Piekarska, B.
Chłopaś, K.
Bielańska, E.
Pańczyk, T.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: atomic force microscopy
Congo red
doxorubicin
dynamic light scattering
Evans blue
scanning electron microscopy
single-walled carbon nanotubes
transmission electron microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja