- Tytuł:
- Analiza profilowa SIMS w zastosowaniu do badań nanostruktur warstwowych
- Autorzy:
-
Konarski, P.
Ćwil, M. - Data publikacji:
- 2004
- Słowa kluczowe:
-
spektrometria mas jonów wtórnych (SIMS)
analiza profilowa
nanostruktury warstwowe
trawienie jonowe
secondary ion mass spectrometry (SIMS)
depth profile analysis
layered nanostructures
ion sputtering - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł