- Tytuł:
- Model for forecasting good yield of microcircuit chips by results of test control
- Autorzy:
-
Belous, A.
Emelyanov, A.
Syakersky, V.
Chyhir, R. - Data publikacji:
- 2008
- Słowa kluczowe:
-
mikroelektronika
jakość produkcji
obwód scalony
microelectronics
microcircuit chip - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł