- Tytuł:
- Kompleksowa charakteryzacja struktur elektronicznych na podłożach SiC metodami fotoelektrycznymi, elektrycznymi i optycznymi
- Autorzy:
-
Przewłocki, H. M.
Gutt, T.
Piskorski, K.
Rzodkiewicz, W.
Borowicz, P.
Esteve, R.
Bakowski, M. - Data publikacji:
- 2011
- Słowa kluczowe:
-
struktura MOS
węglik krzemu
schemat pasmowy
metody fotoelektryczne
metody elektryczne
metody optyczne
MOS structure
silicon carbide
band diagram
photoelecric methods
electric methods
optical methods - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł