- Tytuł:
- Modelowanie ab initio powierzchni GaN(OOO1) za pomocą metody funkcjonału gęstości (DFT)
- Autorzy:
-
Krakowski, S.
Kempisty, P.
Strąk, P. - Data publikacji:
- 2010
- Słowa kluczowe:
-
badanie powierzchni GaN(0001)
powierzchnia GaN(0001)
modelowanie powierzchni
własności powierzchni
metoda funkcjonału gęstości
adsorpcja - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł