- Tytuł:
- Calibration of atomic force microscope
- Autorzy:
-
Masalska, A.
Zawierucha, P.
Woszczyna, M.
Gotszalk, T.
Ritz, Y.
Zschech, E. - Data publikacji:
- 2008
- Słowa kluczowe:
-
mikroskopia sił atomowych
skalowanie
geometria ostrza pomiarowego
błędy skanowania
atomic force microscopy (AFM)
calibration
tip radius
scanning errors - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech