Temat: spektroskopia sił atomowych (AFM)

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Związek między chropowatością powłok ze złota i azotku tytanu a wymiarem fraktalnym ich powierzchni
Autorzy:: Briuchanov, V.V.
Łabutin, I.S.
Samusiev, I.G.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: wymiar fraktali
spektroskopia sił atomowych (AFM)
powierzchnia niewgłębna
chropowatość
długość bazowa
właściwości fizykochemiczne powierzchni
fractal dimension
atomic force microscopy (AFM)
roughness
simply connected surfaces
basic length
physico-chemical properties of surfaces; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Metody oceny stopnia dyspersji nanocząstek w układach ciekłych
Autorzy:: Skrzetuska, E.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: tekstylia wielofunkcyjne
nanotechnologia
spektroskopia korelacji fotonowej
PCS
spektroskopia korelacji flurescencji
FCS
dyfrakcja rentgenowska
XRD
mikroskop sił atomowych
AFM; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Comparison of the structure and topography of selected low friction thin films
Autorzy:: Paradecka, A.
Lukaszkowicz, K.
Kříž, A.
Potempa, R.
Data publikacji:: 2017
Słowa kluczowe:: low friction thin films
DLC
TiC
AFM
Raman spectroscopy
structure
mikroskopia sił atomowych
spektroskopia ramanowska
struktura; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Metody charakteryzacji grafenu wykorzystywanego w sensorowych układach rezystancyjnych
Autorzy:: Drewniak, S.
Pustelny, T.
Strupiński, W.
Pasternak, I.
Opilski, Z.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: grafen
sensory gazowe
Mikroskopia Sił Atomowych
spektroskopia ramanowska
graphene
gas sensors
atomic force microscopy (AFM)
Raman spectroscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Effect of solution concentration on optical and morphological properties of gallium nitride thin films
Współwytwórcy:: Al-Haddithi, Asmit R. Autor
Aziz, Wisam J. Autor
Ali, E.S. Autor
Data publikacji:: 2021
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Azotek galu
Spektroskopia Ramana
Fotoluminescencja
Właściwości optyczne
Krystalografia rentgenowska
Spektroskopia UV/VIS
Piroliza
Cienkie warstwy (technika); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: XPS and UPS valence band studies of nanocrystalline Ni-Ti alloy thin films
Współwytwórcy:: Dawczak-Dębicki, H. Autor
Werwiński, Mirosław. Autor
Smardz, Lesław. Autor
Majchrzycki, Łukasz. Autor
Marczyńska, Agnieszka (fizyk). Autor
Szajek, Andrzej. Autor
Skoryna, Juliusz. Autor
Pacanowski, Sebastian. Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Nanokryształy
Struktura elektronowa
Spektroskopia fotoelektronów w zakresie promieniowania X
Stopy (materiałoznawstwo)
Cienkie warstwy (technika)
Spektroskopia fotoelektronów w zakresie promieniowania nadfioletowego; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Selected imaging techniques applied in forensic science
Wybrane techniki obrazowania stosowane w kryminalistyce
Autorzy:: Łasińska, Anna
Data publikacji:: 2018-03-15
Wydawca:: Agencja Bezpieczeństwa Wewnętrznego
Tematy:: imaging techniques
microscopy
SEM
X-ray microanalysis
EDS
Raman spectroscopy
atomic force microscopy
AFM
techniki obrazowania
mikroskopia
mikroanaliza rentgenowska
spektroskopia Ramana
mikroskopia sił atomowych; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Wybrane techniki obrazowania stosowane w kryminalistyce.
Selected imaging techniques applied in forensic science
Autorzy:: Łasińska Anna
Data publikacji:: 2018-03-15
Tematy:: techniki obrazowania
mikroskopia
SEM
mikroanaliza rentgenowska
EDS
spektroskopia Ramana
mikroskopia sił atomowych
AFM
imaging techniques
microscopy
X-ray microanalysis
Raman spectroscopy
atomic force microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: CEJSH

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Postępy w badaniach struktur nadcząsteczkowych segmentowych poliuretanów
Autorzy:: Janik, H.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: poliuretany
struktura nadcząsteczkowa
morfologia
mikroskopia elektronowa
mikroskopia sił atomowych
spektroskopia Ramana
polyurethanes
morphology
supermolecular structure
electron microscopy
atomic force microscopy (AFM)
Raman spectroscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Exchange coupling effects in naturally oxidised ultrathin iron film
Współwytwórcy:: Dawczak-Dębicki, H. Autor
Smardz, Lesław. Autor
Nowicki, Marek (fizyka techniczna). Autor
Marczyńska, Agnieszka (fizyk). Autor
Wachowiak, Mateusz. Autor
Jabłoński, B. (fizyk). Autor
Rogowska, A. Autor
Pacanowski, Sebastian. Autor
Czajka, Ryszard (1953- ). Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Oddziaływanie wymiany
Żelazo
Spektroskopia fotoelektronów w zakresie promieniowania X
Napylanie w polu magnetycznym
Cienkie warstwy (technika); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "spektroskopia sił atomowych (AFM)" wg kryterium: Temat