- Tytuł:
- Wpływ rozdzielczości skanowania mikroskopu AFM na wyznaczone wartości geometryczne, fraktalne i statystyczne
- Autorzy:
-
Bramowicz, M.
Kulesza, S.
Szabracki, P.
Lipiński, T. - Data publikacji:
- 2013
- Słowa kluczowe:
-
mikroskopia (AFM)
parametry geometryczne
statystyczne i fraktalne powierzchni
AFM microscopy
geometrical parameters
statistical and fractal properties of the surface - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł