Temat: testing of circuits

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Topological analysis and diagnosis of analog circuits
Autorzy:: Starzyk, J.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: układ analogowy
analiza topologiczna
diagnostyka układów
lokalizacja uszkodzeń
testowanie układów
analog circuit
topological analysis
diagnosis of circuits
fault location
testing of circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: A prediction of the fault-induced instability of circuit under test as a new approach in categorisation of faults
Autorzy:: Toczek, W.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: testowanie układu analogowego
kategoryzacja uszkodzeń
niestabilność indukowana przez uszkodzenie
testing of analog circuits
categorisation of faults
fault-induced instability; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: On enhancing diagnostic effectiveness of autonomous test structures for digital circuits of medical devices
Autorzy:: Chodacki, M.
Data publikacji:: 2010
Wydawca:: Uniwersytet Śląski. Wydział Informatyki i Nauki o Materiałach. Instytut Informatyki. Zakład Systemów Komputerowych
Tematy:: symulacja układów cyfrowych
pseudolosowe testowanie
wbudowany autotest
simulation of digital circuits
pseudorandom testing
built-in self-test; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Genetic algorithms in pseudorandom testing of medical digitalcircuits
Autorzy:: Chodacki, M.
Michalski, D.
Data publikacji:: 2009
Wydawca:: Uniwersytet Śląski. Wydział Informatyki i Nauki o Materiałach. Instytut Informatyki. Zakład Systemów Komputerowych
Tematy:: algorytmy genetyczne
urządzenia medyczne
symulacja układów cyfrowych
genetic algorithms
medical devices
simulation of digital circuits
pseudorandom testing; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: On enhancing diagnostic effectiveness of autonomous test structures for digital circuits of medical devices
Autorzy:: Chodacki, M.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: symulacja układów cyfrowych
pseudolosowe testowanie
wbudowany autotest
simulation of digital circuits
pseudorandom testing
built-in self-test; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Genetic algorithms in pseudorandom testing of medical digitalcircuits
Autorzy:: Chodacki, M.
Michalski, D.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: algorytmy genetyczne
urządzenia medyczne
symulacja układów cyfrowych
genetic algorithms
medical devices
simulation of digital circuits
pseudorandom testing; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja