Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "time-of-flight analyzer" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-5 z 5
Tytuł:
Zastosowanie spektrometrii mas jonów wtórnych z analizatorem czasu przelotu (TOF-SIMS) do badań odporności korozyjnej warstw konwersyjnych wytworzonych działaniem chromu(III) na powłoki cynkowe na stali węglowej
Autorzy:
Rogowski, J.
Socha, M.
Socha, A.
Data publikacji:
2017
Słowa kluczowe:
spektrometria mas jonów wtórnych z analizatorem czasu przelotu
TOF-SIMS
chrom(III)
powłoka cynkowa
stal węglowa
odporność korozyjna
secondary ion mass spectrometry with flight of time analyzer
chromium(III)
zinc coating
carbon steel
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-5 z 5

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies