Wszystkie pola: diffraction method

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Electronic Materials T 43 Nr 1 2015
X-ray diffraction topography of lattice defects in MgAl2O4 and ScAlMgO4 crystals grown under different technological conditions
Rentgenowska topografia dyfrakcyjna defektów sieci krystalicznej w monokryształach MgAl2O4 i ScAlMgO4 otrzymywanych w różnych warunkach technologicznych
Materiały Elektroniczne T. 43 Nr 1
Autorzy:: Wierzbicka Edyta
Współwytwórcy:: Wierzchowski Wojciech
Mazur Krystyna
Romaniec Magdalena
Kisielewski Jarosław
Malinowska Agnieszka
Świrkowicz Marek
Szyrski Włodzimierz
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction topography
Czochralski method
MgAl2O4
crystal lattice defects
ScAlMgO4
topografia rentgenowska; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1980 nr 2(30)
Metoda badań rentgenowskich struktury pasmowej ciał stałych na przykładzie miedzi
Metoda badań rentgenowskich struktury pasmowej ciał stałych na przykładzie miedzi = X-ray examination method of solid state band structure, based on the example of copper
Autorzy:: Badzian Andrzej
Współwytwórcy:: Kłokocki Andrzej
Data publikacji:: 1981
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: promieniowanie rentgenowskie
Cu
struktura pasmowa
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
bad structure
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały
X-ray diffraction study; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Badanie monokryształów tlenkowych za pomocą synchrotronowej i konwencjonalnej rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej
Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-raydiffraction topography Wojciech Wierzchowski, Agnieszka Malinowska, Krzysztof Wieteska, Edyta Wierzbicka, Krystyna Mazur, Maria Lefeld - Sosnowska, Marek Świrkowicz, Tadeusz Łukasiewicz.
Autorzy:: Wierzchowski Wojciech
Współwytwórcy:: Mazur Krystyna
Łukasiewicz Tadeusz
Lefeld - Sosnowska Maria
Wierzbicka Edyta
Malinowska Agnieszka
Świrkowicz Marek
Wieteska Krzysztof
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction topography
defekty sieci krystalicznej
Czochralski method
crystal lattice defects
dyfrakcyjna topografia dyfrakcyjna
metoda Czochralskiego; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Investigation of the defect structure in the new types of undoped and Pr-doped scintillator single crystals of mixed lutetium-yttrium-aluminum garnets [LuxY1-x]Al5O12 (LuYAG)
Badanie struktury defektowej w nowych rodzajach scyntylacyjnych monokryształów mieszanych granatów lutetowo-itrowo-glinowych [LuxY1-x]Al5O12 (LuYAG) niedomieszkowanych oraz aktywowanych prazeodymem
Electronic Materials T. 43 Nr 1 2015
Materiały Elektroniczne T. 43 Nr 1
Autorzy:: Malinowska Agnieszka
Współwytwórcy:: Wierzchowski Wojciech
Mazur Krystyna
Romaniec Magdalena
Drozdowski Winicjusz
Romaniec, Magdalena
Kisielewski Jarosław
Wierzbicka Edyta
Świrkowicz Marek
Szyrski Włodzimierz
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction topography
defekty sieci krystalicznej
Czochralski method
crystal lattice defects
metoda Czochralskiego
mieszane granaty lutetowo-itrowo-glinowe
materiały scyntylacyjne
mixed lutetium-yttium-aluminum garnets
dyfrakcyjna topografia rentgenowska
scintillator crystals; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Informacja