Wszystkie pola: evaluation of materials

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Zastosowanie formuły Robertsona do wyznaczania wielkości naprężeń w materiałach półprzewodnikowych
Materiały Elektroniczne 1987 nr 1(57)
Zastosowanie formuły Robertsona do wyznaczania wielkości naprężeń w materiałach półprzewodnikowych = The use of Robertsons formula for the evaluation of stress in semiconductor materials
Autorzy:: Bajor Andrzej
Współwytwórcy:: Adamkiewicz Grażyna
Data publikacji:: 1987
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: strain
materiał półprzewodnikowy
Elektronika - czasopismo - materiały
formuła Robertsona
naprężenie
Materiały elektroniczne
Electronic materials
Robertson's formula
Electronic - journal - material; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 2008 T.36 nr 4
Evaluation of electrical properties of Eu and Pd-doped titanium dioxide thin films deposited on silicon
Evaluation of electrical properties of Eu and Pd-doped titanium dioxide thin films deposited on silicon = Badanie właściwości elektrycznych cienkich warstw TiO2 domieszkowanych Eu i Pd naniesionych na podłoża krzemowe
Autorzy:: Prociow Eugeniusz L.
Data publikacji:: 2008
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: własności elektryczne
TiO2:(Eu, Pd)
heterojunction
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
Elektronika - czasopismo - materialy
heterozłącze
Electronic - journal - materials
electrical properties; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1979 nr 1(25)
Ocena przydatności płytkowego źródła domieszek fosforu do krzemu = Evaluation of possibility to dope silicon wiyh ohosphorus from solid planar diffusion source
Ocena przydatności płytkowego źródła domieszek fosforu do krzemu
Autorzy:: Flakus Iwona
Współwytwórcy:: Rećko Wacław Marek
Kończyk Sławomir
Waczyński Krzysztof
Data publikacji:: 1980
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - journal - materials
silicon doping
phosphorus
krzem
Materiały elektroniczne
Electronic - materials
fosfor
domieszkowanie; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 2012 T.40 nr 4
Dobór warunków wzrostu monokryształów antymonku galu o średnicy 3" zmodyfikowaną metodą Czochralskiego = Evaluation of growth conditions for 3" gallium antimonide single crystals by the modified Czochralski method
Dobór warunków wzrostu monokryształów antymonku galu o średnicy 3 zmodyfikowaną metodą Czochralskiego
Autorzy:: Mirowska Aleksandra
Współwytwórcy:: Orłowski Wacław
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: defekty
GaSb
Czochralski method
segregation
domieszkowanie
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
metoda Czochralskiego
segregacja
doping
Electronic - journal - materials
defects
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1975 nr 2(10)
Ocena stopnia zdefektowania warstwy ładunku przestrzennego dyfuzyjnych złącz p-n w arsenku galu = The evaluation of space charge layer defects in gallium arsenide diffusion p-n junctions
Ocena stopnia zdefektowania warstwy ładunku przestrzennego dyfuzyjnych złącz p-n w arsenku galu
Autorzy:: Pietras Edward
Data publikacji:: 1975
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: defekt
defect
Elektronika - czasopismo - materialy
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
złącze dyfuzyjne
Electronic - journal - materials
space charge layer
warstwa ładunku przestrzennego
GaAs
diffusion p-n junction; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Ocena jakości montażu diod laserowych na pasmo 808 nm poprzez pomiar rezystancji termicznej i charakterystyk spektralnych = Evaluation of the mounting quality of laser diodes emitting at 808nm by thermal resistance and spectral characteristics measurements
Ocena jakości montażu diod laserowych na pasmo 808 nm poprzez pomiar rezystancji termicznej i charakterystyk spektralnych
Materiały Elektroniczne 2011 T.39 nr 3
Autorzy:: Dąbrowska Elżbieta
Współwytwórcy:: Maląg Andrzej
Teodorczyk Marian
Sobczak Grzegorz
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: rezystancja termiczna
Electronic - journal - materials
thermal resistance
charakterystyka spektralna
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
dioda laserowa
p-n junction
Elektronika - czasopismo - materiały
laser diode; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Evaluation system of education : building the community of professionals working together on improvement of the educational system : basic and developmental training : sessions plans and teaching materials
System ewaluacji oświaty : zbudowanie społeczności profesjonalistów wspólnie pracujących nad doskonaleniem systemu ewaluacji : szkolenia podstawowe i doskonalące : scenariusze i materiały szkoleniowe
Autorzy:: Franczak, Justyna
Arkusińska, Agnieszka
Drozd, Ewa
Antoniuk-Gula, Monika
Berdzik, Joanna
Osińska, Małgorzata
Pawlicki, Aleksander
Czerkawska, Bernadetta
Mizerek, Henryk
Borowska-Reutt, Joanna
Ciężka, Beata
Borek, Agnieszka
Durszewicz, Jarosław
Mazurkiewicz, Grzegorz
Stojak, Janina
Wlazło, Stefan
Piotrowska, Laura
Kowalik, Wojciech
Gemza, Hanna
Siejewicz, Marzena
Kulesza, Dorota
Kasprzak, Tomasz
Ligęza, Agata
Kowalczyk-Rumak, Emilia
Rabiej, Laura
Kostrubała-Brak, Anna
Simka, Paweł
Smołowik, Aleksander
Dudek, Ewa
Bobula, Stanisław
Bębnik, Bogusława
Trojecki, Michał
Kołodziejczyk, Jakub
Tałan, Piotr
Dorczak, Roman
Gocłowska, Anna
Stoecker, Ewa
Domerecka, Beata
Śliwa, Maciej
Kołodziejczyk, Joanna
Walczak, Bartłomiej
Pietrzak, Jarosław
Swat-Pawlicka, Magdalena
Kotlarz, Joanna
Lachowicz, Indira
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Wydawnictwo Uniwersytetu Jagiellońskiego
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Książka

Szczegóły

Informacja