Wszystkie pola: x-ray diffraction analysis

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Rentgenodyfrakcyjna analiza odkształceń koherentnych w półprzewodnikowych strukturach warstwach AIIIBV. Praca doktorska
Prace doktorskie
Rentgenodyfrakcyjna analiza odkształceń koherentnych w półprzewodnikowych strukturach warstwach AIIIBV. praca doktorska = X-ray diffractiometric analysis of coherence deformation in AIIIBV semiconductor layered structures
Autorzy:: Sass Jerzy
Współwytwórcy:: Pajączkowska Anna. Promotor.
Data publikacji:: 1998
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: dyfrakcja rentgenowska
warstwa epitaksjalna
Elektronika - materiały
epitaxial layer
misfitdislocation
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
AIIIBV
x-ray diffraction
dyslokacja niedopadowania; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Analiza profilu rentgenowskiego widma dyfrakcyjnego w przypadku jednowymiarowej modulacji składu chemicznego. Praca doktorska = Analysis of the X-ray diffraction pattern profile in the case of one-dimensional modulation of the chemical composition
Analiza profilu rentgenowskiego widma dyfrakcyjnego w przypadku jednowymiarowej modulacji składu chemicznego. Praca doktorska
Prace doktorskie
Autorzy:: Gaca Jarosław
Współwytwórcy:: Przedmojski, Jan. Promotor.
Data publikacji:: 1997
Wydawca:: Polit. Warsz.
Słowa kluczowe:: Elektronika - materiały
XRD
chemical composition
supersieć
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
heterostruktura
heterostructure superlattice; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Informacja