Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Biblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaBiblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie

Wyszukujesz frazę "⋁-lattice" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
Wyświetlanie 1-10 z 13
Tytuł:
Badanie monokryształów tlenkowych za pomocą synchrotronowej i konwencjonalnej rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej
Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-raydiffraction topography Wojciech Wierzchowski, Agnieszka Malinowska, Krzysztof Wieteska, Edyta Wierzbicka, Krystyna Mazur, Maria Lefeld - Sosnowska, Marek Świrkowicz, Tadeusz Łukasiewicz.
Autorzy:
Wierzchowski Wojciech
Współwytwórcy:
Mazur Krystyna
Łukasiewicz Tadeusz
Lefeld - Sosnowska Maria
Wierzbicka Edyta
Malinowska Agnieszka
Świrkowicz Marek
Wieteska Krzysztof
Data publikacji:
2016
Wydawca:
ITME
Słowa kluczowe:
X-ray diffraction topography
defekty sieci krystalicznej
Czochralski method
crystal lattice defects
dyfrakcyjna topografia dyfrakcyjna
metoda Czochralskiego
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Szczegóły
Tytuł:
Electronic Materials T 43 Nr 1 2015
X-ray diffraction topography of lattice defects in MgAl2O4 and ScAlMgO4 crystals grown under different technological conditions
Rentgenowska topografia dyfrakcyjna defektów sieci krystalicznej w monokryształach MgAl2O4 i ScAlMgO4 otrzymywanych w różnych warunkach technologicznych
Materiały Elektroniczne T. 43 Nr 1
Autorzy:
Wierzbicka Edyta
Współwytwórcy:
Wierzchowski Wojciech
Mazur Krystyna
Romaniec Magdalena
Kisielewski Jarosław
Malinowska Agnieszka
Świrkowicz Marek
Szyrski Włodzimierz
Data publikacji:
2015
Wydawca:
ITME
Słowa kluczowe:
X-ray diffraction topography
Czochralski method
MgAl2O4
crystal lattice defects
ScAlMgO4
topografia rentgenowska
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Szczegóły
Tytuł:
Metrological applications of cold atoms trapped optically
Zastosowanie metrologiczne zimnych atomów pułapkowanych optycznie
Autorzy:
Piotrowski, Marcin
Współwytwórcy:
Zachorowski, Jerzy
Data publikacji:
2015-10-23
Słowa kluczowe:
chłodzenie i pułapkowanie laserowe
metrologia
laser trapping
rubidium dipole trap
laser cooling
optical lattice
optyczny zegar atomowy
metrology
fizyka atomowa
pułapka magneto-optyczna
pułapka dipolowa
pułapka dipolowa dla rubidu
lasery
atomic physics
sieci optyczne
zegar atomowy
atomic clock
lasers
strontium atomic clock
MOT
zegar strontowy
optical lattice clock
magneto-optical trap
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Książka
Szczegóły
Tytuł:
Ku zrozumieniu nieergodycznej fizyki w kwantowych układach wielociałowych
Towards understanding of non-ergodic physics in quantum many-body systems
Autorzy:
Aramthottil, Adith Sai
Współwytwórcy:
Zakrzewski, Jakub
Data publikacji:
2025-02-17
Słowa kluczowe:
eigenstate thermalization hypothesis
całki ruchu
teorie cechowania kratowego
lattice gauge theories
Hilbert space fragmentation
integrable systems
bozony sieci dipolarnej
systemy integrowalne
renormalization group
quantum many-body scars
integrals of motion
fragmentacja przestrzeni Hilberta
many-body localization
dipolar lattice bosons
kwantowe blizny wielociałowe
hipoteza termizacji stanu własnego
wiele ciał lokalizacja
grupa renormalizacyjna
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Książka
Szczegóły
Tytuł:
Materiały Elektroniczne 1983 nr 4(44)
O defektach sieci przestrzennej kryształów badanych metodami rentgenowskimi
O defektach sieci przestrzennej kryształów badanych metodami rentgenowskimi = Lattice defects studied by x-ray methods
Autorzy:
Badzian Andrzej
Data publikacji:
1984
Wydawca:
Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:
dyfrakcja promieni rentgenowskich
X-ray diffraction
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
roztwór stały
solid solution
lattice defect
defekt sieci
Electronic - journal - materials
Elektronika - czasopismo - materiały
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Szczegóły
Tytuł:
Materiały Elektroniczne 2012 T.40 nr 4
Określenie koncentracji współczynnika segregacji aktywnych jonów ziem rzadkich w warstwach epitaksjalnych i strukturach falowodowych YAG
Określenie koncentracji współczynnika segregacji aktywnych jonów ziem rzadkich w warstwach epitaksjalnych i strukturach falowodowych YAG = Determination of concentration and the segregation of active rare earth ions in YAG epitaxial layers and waveguide structures
Autorzy:
Sarnecki Jerzy
Data publikacji:
2012
Wydawca:
ITME
Słowa kluczowe:
YAG
koncentracja jonów
Electronic - materials
ions concentration
lattice constant
Materiały elektroniczne
współczynnik segregacji jonu
Electronic - journal - materials
segregation coefficient
stała sieci
LPE
Elektronika - czasopismo - materiały
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Szczegóły
Wyświetlanie 1-10 z 13

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies