- Tytuł:
-
Scanning electron microscope at low voltage operation - a unique characterization tool for graphene layers
Scanning electron microscope at low voltage operation - a unique characterization tool for graphene layers Iwona Jóźwik.
Skaningowy mikroskop elektronowy pracujący w zakresie niskich wartości napięcia przyspieszającego jako unikatowe narzędzie do charakteryzacji warstw grafenu - Autorzy:
- Jóźwik Iwona
- Współwytwórcy:
- Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych. Wyd.
- Data publikacji:
- 2016
- Wydawca:
- ITME
- Słowa kluczowe:
-
Charakteryzacja grafenu
Graphene
Low-kV scanning electron microscopy
Grafen
Niskoenergetyczna skaningowa mikroskopia elektronowa
Graphene characterization - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
