- Tytuł:
-
Influence of projectile chemistry on the sputtering process of the model polymer thin film
Wpływ chemii pocisku na proces rozpylania modelowej warstwy polimerowej - Autorzy:
- Sęk, Katarzyna
- Słowa kluczowe:
-
spektrometria mas jonów wtórnych, SIMS, mikroskopia sił atomowych, AFM, nanotechnologia, rozpylanie jonowe, rozpylanie cienkich warstw, polimery
secondary ion mass spectrometry, SIMS, atomic force microscopy, AFM, nanotechnology, ion sputtering, sputtering of thin films, polymers - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Inne