Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "atomic force microscopy, ellipsometry, polymer brushes, SI-ATRP" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Mikroskopowa i spektroskopowa charakteryzacja skoniugowanych szczotek polimerowych szczepionych z powierzchni
Microscopic and spectroscopic characterizations of conjugated surface-grafted polymer brushes
Autorzy:
Fiocco, Alice
Słowa kluczowe:
atomic force microscopy, ellipsometry, polymer brushes, SI-ATRP
mikroskopia sil atomowych, elipsometria, szczotki polimerowe, SI-ATRP
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Inne
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies