- Tytuł:
- Advanced microstructure diagnostics and interface analysis of modern materials by high-resolution analytical transmission electron microscopy
- Współwytwórcy:
-
Hetaba, W.
Zheng, C.
Mogilatenko, A.
Hausler, I.
Kirmse, H.
Neumann, W. - Data publikacji:
- 2010
- Dostawca treści:
- Academica