Wszystkie pola: analog circuit testing

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Two heuristic alghorithms for test point selection in analog circuit diagnoses
Autorzy:: Pułka, A.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: analog circuit diagnosis
fault diagnosis
testing
search methods
heuristic optimization; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Two heuristic alghorithms for test point selection in analog circuit diagnoses
Autorzy:: Pułka, A.
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analog circuit diagnosis
fault diagnosis
testing
search methods
heuristic optimization; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Wavelet energy-based mahalanobis distance metric for testing analog and mixed-signal circuits
Autorzy:: Spyronasios, A. D.
Dimopoulos, M. G.
Hatzopoulos, A. A.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: analogowy i mieszany test sygnału
test obwodu
falki
odległość Mahalanobisa
Analog and Mixed-Signal Testing
Circuit Test
wavelets
Mahalanobis distance; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Topological analysis and diagnosis of analog circuits
Autorzy:: Starzyk, J.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: układ analogowy
analiza topologiczna
diagnostyka układów
lokalizacja uszkodzeń
testowanie układów
analog circuit
topological analysis
diagnosis of circuits
fault location
testing of circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: A method of self-testing of an analog circuit terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: self-testing
microcontrollers
analog to digital converters
samotestowanie
mikrokontrolery
przetworniki analogowo-cyfrowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Wavelet energy-based mahalanobis distance metric for testing analog and mixed-signal circuits
Autorzy:: Spyronasios, A. D.
Dimopoulos, M. G.
Hatzopoulos, A. A.
Data publikacji:: 2010
Wydawca:: Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:: analogowy i mieszany test sygnału
test obwodu
falki
odległość Mahalanobisa
Analog and Mixed-Signal Testing
Circuit Test
wavelets
Mahalanobis distance; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: A prediction of the fault-induced instability of circuit under test as a new approach in categorisation of faults
Autorzy:: Toczek, W.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: testowanie układu analogowego
kategoryzacja uszkodzeń
niestabilność indukowana przez uszkodzenie
testing of analog circuits
categorisation of faults
fault-induced instability; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja