- Tytuł:
- Microstructural Analysis and Transport Properties of $RuO_2$-Based Thick Film Resistors
- Autorzy:
-
Gabáni, S.
Flachbart, K.
Pavlík, V.
Pietriková, A.
Gabániová, M. - Data publikacji:
- 2008-01
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Tematy:
-
85.40.Xx
72.80.-r
73.40.Rw - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki