Temat: Elipsometria - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Application of a biosensor based on SPR using spectroscopic ellipsometer
Zastosowanie czujnika biologicznego bazującego na powierzchniowym rezonansie plazmonu (SPR) używającego elipsometrii spektroskopowej
Autorzy:: Bombarová, K.
Chlpík, J.
Cirák, J.
Data publikacji:: 2014
Wydawca:: Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
Tematy:: SPR
ellipsometry
TIRE
biosensor
elipsometria; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Application of a biosensor based on SPR using spectroscopic ellipsometer
Autorzy:: Bombarová, K.
Chlpík, J.
Cirák, J.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: SPR
ellipsometry
TIRE
biosensor
elipsometria; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Studies of silver diffusion into soda-lime glass using analysis of plasmon evolution
Autorzy:: Nocuń, Marek
Środa, Marcin
Jedliński, Jerzy
Lipień, Krzysztof
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: glass
silver
diffusion
ellipsometry
szkło
dyfuzja
elipsometria
srebro; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: The influence of PEDOT to PSS ratio on the optical properties of PEDOT:PSS thin solid films : insight from spectroscopic ellipsometry
Współwytwórcy:: Jarząbek, Bożena. Autor
Wanic, Adam. Autor
Jurusik, Jan. Autor
Łaba, Katarzyna. Autor
Domański, Marian (chemik). Autor
Bednarski, Henryk Józef. Autor
Łapkowski, Mieczysław (1951- ). Autor
Hajduk, Barbara (inżynieria materiałowa). Autor
Data publikacji:: 2016
Tematy:: Sulfonian polistyrenu
PEDOT
Elipsometria; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Evaluation of thin Ta(N) film integrity deposited on porous glasses
Autorzy:: Shamiryan, D.
Baklanov, M. R.
Yanovitskaya, A. V.
Zverev, A. V.
Tőkei, Z.
Iacopi, F.
Maex, K.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: szkło porowate
bariera dyfuzyjna
elipsometria
porous glass
low-k dielectric
diffusion barrier
ellipsometry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: New designs for graded refractive index antireflection coatings
Autorzy:: Mahdjoub, A.
Zighed, L.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: warstwa przeciwodblaskowa
elipsometria
współczynnik załamania światła
AR coatings
ellipsometry
graded refractive index; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Characterization of a-C:N:H, a-SiNx:H and a-SiCx:Ny:H layers deposited on various substrates
Autorzy:: Dyndał, K.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: PACVD
amorphous layer
spectroscopic ellipsometry
optical properties
warstwy amorficzne
elipsometria spektroskopowa
właściwości optyczne; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Strukturalne i optyczne właściwości wygrzewanych cienkich warstw ZnO
Autorzy:: Ungeheuer, Katarzyna
Marszalek, Konstanty W.
Data publikacji:: 2022
Słowa kluczowe:: tlenek cynku
elipsometria spektroskopowa
zastosowanie w kosmosie
Zinc oxide
Spectroscopic ellipsometry
Space application; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Ellipsometry in optical studies of thin films conducted at the Institute of Physics of Wroclaw University of Technology
Autorzy:: Żukowska, K.
Oleszkiewicz, E.
Data publikacji:: 2001
Słowa kluczowe:: powłoki
elipsometria
stałe optyczne
pomiar grubości
cienka warstwa
coatings
ellipsometry
optical constants
thickness measurement
thin films; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Mikroskopowa i spektroskopowa charakteryzacja skoniugowanych szczotek polimerowych szczepionych z powierzchni
Microscopic and spectroscopic characterizations of conjugated surface-grafted polymer brushes
Autorzy:: Fiocco, Alice
Słowa kluczowe:: atomic force microscopy, ellipsometry, polymer brushes, SI-ATRP
mikroskopia sil atomowych, elipsometria, szczotki polimerowe, SI-ATRP; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "Elipsometria" wg kryterium: Temat