- Tytuł:
- Surface characterization of palladium catalysts using time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS)
- Autorzy:
-
Grams, J.
Góralski, J.
Szczepaniak, B.
Paryjczak, T. - Data publikacji:
- 2006
- Słowa kluczowe:
-
ToF-SIMS
pallad
hydroodchlorowanie
TOF-SIMS
palladium
hydrodechlorination
surface characterization - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech