- Tytuł:
- Scanning acoustic and X-ray microscopy as attractive tools for diagnostics of electronic components
- Autorzy:
- Sutor-Dziedzic, A.
- Data publikacji:
- 2007
- Słowa kluczowe:
-
skaningowa mikroskopia akustyczna
mikroskopia rentgenowska
diagnostyka nieniszcząca
scanning acoustic microscopy
X-ray microscopy
non-destructive testing - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech