Temat: multiplicative component of error

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Disassembly-free metrological control of analog-to-digital converter parameters
Autorzy:: Bubela, Tetiana
Kochan, Roman
Więcław, Łukasz
Yatsuk, Vasyl
Kuts, Victor
Yatsuk, Jurij
Data publikacji:: 2022
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: metrological support
analog-to-digital converter
non-disassembly control
cyber-physical system
nonlinearity
additive component of error
ACE
multiplicative component of error; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Informacja