- Tytuł:
- Properties and origin of oval defects in epitaxial structures grown by molecular beam epitaxy
- Autorzy:
-
Szerling, A.
Kosiel, K.
Wójcik-Jedlińska, A.
Płuska, M.
Bugajski, M. - Data publikacji:
- 2005
- Słowa kluczowe:
-
oval defects
A3B5
molecular beam epitaxy (MBE)
spectrally resolved photoluminescence
scanning electron microscopy (SEM)
cathodoluminescence - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł